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측정 범위 1 · 10-2 – 110 hPa, 최소의 제로 드리프트, 세라믹 기술 센서, 메모리 영향이 없음, 동일한 온도 계수로 사용된 재질, 우수한 장시간 안정성 및 온도 안정성, 센서 쉴드에 의한 오염 방지 강화, 제공된 교정 테스트 보고서

측정 범위 1 · 10-2 – 110 hPa, 최소의 제로 드리프트, 세라믹 기술 센서, 메모리 영향이 없음, 동일한 온도 계수로 사용된 재질, 우수한 장시간 안정성 및 온도 안정성, 센서 쉴드에 의한 오염 방지 강화, 제공된 교정 테스트 보고서

측정 범위 1 · 10-3 – 11 hPa, 최소의 제로 드리프트, 세라믹 기술 센서, 메모리 영향이 없음, 동일한 온도 계수로 사용된 재질, 우수한 장시간 안정성 및 온도 안정성, 센서 쉴드에 의한 오염 방지 강화, 제공된 교정 테스트 보고서

측정 범위 1 · 10-3 – 11 hPa, 최소의 제로 드리프트, 세라믹 기술 센서, 메모리 영향이 없음, 동일한 온도 계수로 사용된 재질, 우수한 장시간 안정성 및 온도 안정성, 센서 쉴드에 의한 오염 방지 강화, 제공된 교정 테스트 보고서

측정 범위 1 · 10-3 – 11 hPa, 최소의 제로 드리프트, 세라믹 기술 센서, 메모리 영향이 없음, 동일한 온도 계수로 사용된 재질, 우수한 장시간 안정성 및 온도 안정성, 센서 쉴드에 의한 오염 방지 강화, 제공된 교정 테스트 보고서

측정 범위 1 · 10-3 – 11 hPa, 최소의 제로 드리프트, 세라믹 기술 센서, 메모리 영향이 없음, 동일한 온도 계수로 사용된 재질, 우수한 장시간 안정성 및 온도 안정성, 센서 쉴드에 의한 오염 방지 강화, 제공된 교정 테스트 보고서

측정 범위 1 · 10-4 – 1.1 hPa, 최소의 제로 드리프트, 세라믹 기술 센서, 메모리 영향이 없음, 동일한 온도 계수로 사용된 재질, 우수한 장시간 안정성 및 온도 안정성, 센서 쉴드에 의한 오염 방지 강화, 제공된 교정 테스트 보고서

측정 범위 1 · 10-4 – 1.1 hPa, 최소의 제로 드리프트, 세라믹 기술 센서, 메모리 영향이 없음, 동일한 온도 계수로 사용된 재질, 우수한 장시간 안정성 및 온도 안정성, 센서 쉴드에 의한 오염 방지 강화, 제공된 교정 테스트 보고서

측정 범위 1 · 10-4 – 1.1 hPa, 최소의 제로 드리프트, 세라믹 기술 센서, 메모리 영향이 없음, 동일한 온도 계수로 사용된 재질, 우수한 장시간 안정성 및 온도 안정성, 센서 쉴드에 의한 오염 방지 강화, 제공된 교정 테스트 보고서